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菲希爾MP0測厚儀校準信息
更新時間：2025-10-31 點擊次數：35次
菲希爾（FISCHER）DUALSCOPE® MP0 測厚儀是一款集磁感應（用于磁性基材上的非磁性涂層）和電渦流（用于非磁性金屬基材上的非導電涂層）兩種測量原理于一體的便攜式涂層測厚儀。為確保測量精度，需定期進行校準（包括正常化和校正）。以下是詳細校準步驟和注意事項：
一、校準前準備
基材（底材）：未鍍/未涂的原始材料，材質和形狀應與被測工件一致。
標準片：已知厚度的標準膜片（如72.4 μm），通常儀器附帶一片，建議使用與被測涂層厚度相近的標準片。
環境要求：避免強磁場、高溫、潮濕環境。
二、校準流程（以鐵基材為例）
1. 正常化（歸零）
目的：消除基材本身對測量的干擾。
開機后，按屏幕對應“校正"位置的按鈕。
選擇“正常化"或系統自動進入。
將探頭垂直放置在干凈的鐵基材上，測量 3–5 次（每次聽到“滴"聲后提起）。
按 OK 確認，屏幕提示“正常完成成功"后，再按一次 OK 完成歸零。
2. 校正（使用標準片）
目的：將儀器讀數校準至標準片標稱值。
返回校正界面，再次測量同一鐵基材 3–5 次（不可跳過）。
將標準片放在該基材上，測量 3–5 次。
按 “設置" 鍵，使用 ↑↓ 鍵將顯示值調整為標準片標稱厚度（如 72.4 μm）。
按 OK 確認。
若有第二片標準片（建議按從薄到厚順序），重復上述步驟；若無，直接按 OK 跳過。
屏幕提示“校準成功完成"。
注意：鋁基材（非鐵基材）校準步驟相同，但需使用非磁性金屬基材（如鋁板）和對應的標準片。
