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美國API激光干涉儀原理技術信息
更新時間：2025-12-10 點擊次數：60次
API激光干涉儀基于激光干涉測量原理，利用激光的高相干性特性，通過檢測測量光束與參考光束之間的光程差變化，實現對目標幾何量的高精度量化。該設備可達成微米級乃至亞微米級的測量精度，其測量范圍覆蓋線性位移、角度、平面度等多項幾何參數，為精密制造過程中的多維度質量檢測提供了可能。
API激光干涉儀的核心技術優勢首先體現在動態測量能力上。該設備可實現對移動目標的實時軌跡跟蹤與精度測量，無需復雜的固定安裝流程，有效縮短了測量準備時間，顯著提升了生產線的檢測效率與柔性化水平。其次，設備集成了溫度補償算法與振動監測模塊，通過對環境溫度波動、機械振動等外部干擾因素的實時感知與數據修正，大幅降低了環境干擾對測量結果的影響，保障了工業環境下測量數據的穩定性與可靠性。此外，其輕量化與便攜性設計特性，突破了傳統精密測量設備對測量環境的限制，可滿足大型工件現場測量的實際需求。
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