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Elektrophysik精密測量裝置MINITEST4100測厚儀Elektrophysik精密測量裝置MINITEST4100測厚儀，該系列的終端產(chǎn)品，該系列產(chǎn)品包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；配有適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭，根據(jù)分辨率量程的不同，探頭應(yīng)用不同的原理（磁感應(yīng)或渦流），適用于不同的基材檢測，通用探頭能自動基板檢，快速精準(zhǔn)無損測量，耐磨材質(zhì)保證了探頭的使用壽命。
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Elektrophysik測厚儀MiniTest 730F5外置探頭Elektrophysik測厚儀MiniTest 730F5外置探頭 Elektrophysik測厚儀MiniTest 730F5，磁感應(yīng)外置探頭測厚儀，統(tǒng)計型，外置一體式探頭,不可更換探頭，探頭自動識別基地材質(zhì)，操作方便，避免操作者犯錯，儀器體重約175g，體型小巧，儀器滿足各種標(biāo)準(zhǔn)：SSPC－PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和
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Elektrophysik測厚儀通用型MiniTest 600B-FN2Elektrophysik測厚儀通用型MiniTest 600B-FN2 600B-FN2兩用型測厚儀是目前已停產(chǎn)的MiniTest 600 FN型號測厚儀的替代產(chǎn)品，具有統(tǒng)計功能,雙原理通用型,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um，探頭自動識別基材，探頭耐磨材質(zhì)制成。符合DIN、ISO、BS、ASTM標(biāo)準(zhǔn)，尤其適用于防腐工業(yè)以及建筑型材，制造工業(yè)的防腐涂鍍層測量。
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MiniTest 7400涂鍍層測厚儀品牌ElektrophysikMiniTest 7400涂鍍層測厚儀品牌Elektrophysik 非磁性涂層測厚儀，分體式設(shè)計，可根據(jù)測量范圍和測量需要更換探頭，儀器采用創(chuàng)新的內(nèi)部數(shù)字信號處理技術(shù)，具有精度高，測量范圍廣特點(diǎn),菜單操作，大型背光屏，涂層厚度測量可達(dá)15 mm，更換探頭測量厚度可達(dá)35mm。主要用于涂料或者非鐵金屬陽極氧化涂層等厚度測試.分體式探頭十分適合測量管道內(nèi)壁厚度.
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MIKROTEST S5測厚儀Elektrophysik標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格MIKROTEST S5測厚儀Elektrophysik標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 MIKROTEST 6 S5是由德國EPK生產(chǎn)研發(fā)，篤摯儀器代理銷售的機(jī)械式涂層測厚儀應(yīng)用于測量鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層，具有Z高的精度，Z簡單的操作等特點(diǎn)，儀器操作簡單，無需校準(zhǔn)，無需電源，機(jī)身覆蓋堅固的金屬外殼，防止機(jī)械沖擊，保證長久的使用壽命。它在工藝技術(shù)及精度方面，具有磁性覆層測厚儀的Z高水準(zhǔn)，
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MiniTest 70F、MiniTest 70FN涂層測厚儀內(nèi)置探頭MiniTest 70F、MiniTest 70FN涂層測厚儀內(nèi)置探頭 MiniTest 70 F ：內(nèi)置探頭，測量鐵基體上的非磁性涂層 MiniTest 70 FN ：內(nèi)置探頭，兩用型，測量鐵基體上的非磁性涂層，非鐵基體上的非導(dǎo)電涂層
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MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik高配置MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik高配置 MiniTest 7400測厚儀，精密的涂鍍層測量裝置，具有多選擇、可更換外部傳感器，有著耐磨的特性，測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便，用于所有金屬基材上的非破壞性測量，大數(shù)據(jù)存儲器允許存儲多達(dá)250,000個讀數(shù)，Z多500個批次用于邏輯數(shù)據(jù)管理，還有著在粗糙表面上進(jìn)行校準(zhǔn)的特殊校準(zhǔn)方法 。 該儀器由德國EPK （E
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MiniTest 3100測厚儀基本規(guī)格ElektrophysikMiniTest 3100測厚儀基本規(guī)格Elektrophysik MiniTest 3100測厚儀所有探頭都可以連接，包括F型、N型FN兩用型，RS 232接口用于便攜式數(shù)據(jù)打印機(jī)MiniPrint 4100或PC，可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。MiniTest 3100擁有10,000個讀數(shù)的總內(nèi)存容量和存儲讀數(shù)的可能性，可透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC）。
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