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菲希爾X射線XULM測(cè)厚儀適用領(lǐng)域特點(diǎn)菲希爾X射線XULM測(cè)厚儀適用領(lǐng)域特點(diǎn) 適合測(cè)量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對(duì)高的計(jì)數(shù)率。
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菲希爾X射線熒光測(cè)厚儀XUL小型臺(tái)式菲希爾X射線熒光測(cè)厚儀XUL小型臺(tái)式 射線管出射點(diǎn)稍大，非常適合測(cè)量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用
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菲希爾Fischer測(cè)厚儀XUL220/X射線菲希爾Fischer測(cè)厚儀XUL220/X射線 x射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，用于無損測(cè)量鍍層厚度及分析材料成分
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾X射線，F(xiàn)ISCHER X射線測(cè)厚儀，菲希爾鍍層測(cè)厚儀。
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN500，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER測(cè)厚儀，菲希爾X射線測(cè)厚儀
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Fischer菲希爾DualScope FMP20膜厚儀測(cè)厚儀Fischer菲希爾DualScope FMP20膜厚儀測(cè)厚儀 DualScope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀 能夠測(cè)量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用，您可以根據(jù)磁感應(yīng)法，渦流法或根據(jù)兩種方法組合在一臺(tái)儀器中進(jìn)行的涂層厚度測(cè)量。
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庫倫法測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP庫倫法測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP，菲希爾測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER庫倫法測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER
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FISCHER X射線測(cè)厚儀XDL230
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德國(guó)菲希爾 (Fischer) 公司 XDL 系列中一款高性價(jià)比的臺(tái)式能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測(cè)厚及材料分析儀，專為質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控設(shè)計(jì)，采用從上往下的測(cè)量方向，配備手動(dòng) XY 工作臺(tái)和電動(dòng) Z 軸系統(tǒng)。
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