elektrophysikMiniTest 730膜厚儀

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MiniTest 730膜厚儀

標準配置：
帶塑料手提箱，內含：

主機:

-MiniTest 720(內置探頭)一個--或MiniTest 730（外置探頭）一個--或MiniTest 740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準標準套裝：含校準片和歸零基板
-操作使用說明CD，可用選擇語言：德語、英語、法語、西班牙語
-2節AA供電電池

elektrophysikMiniTest 730膜厚儀
SIDSP探頭技術參數：

探頭特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內部32位信號處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續模式下測量速度	每秒20個讀數
單值模式下zui大測量速度	每分鐘70個讀數