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Elektrophysik MiniTest 740測厚儀原廠供應
德國Elektrophysik測厚儀MiniTest 740與同系列的產品MiniTest720和730相比提供可更換的F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用，FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，應用范圍更加廣泛。根據探頭類型的不同，采用了磁性法和渦流法兩種測厚方法。F型探頭采用磁性法，可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。
N型探頭采用渦流法，可測量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)和奧氏體不銹鋼上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)
FN則是兩用型。
德國EPK公司涂鍍層測厚儀（Elektrophysik)一直致力于開發和生產各種用于表面處理行業的精密測量的涂層測厚儀，EPK公司與各標準化組織和研究院一道，成功地推進了涂層厚度檢測在世界范圍內的標準化進程。大量的技術與成果表明EPK公司是該涂層檢測的*。
Elektrophysik MiniTest 740測厚儀原廠供應技術參數：
探頭特性 F1.5， N0.7，FN1.5 F2 F5，N2.5，FN5 F15 F N F F N F
測量范圍 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范圍 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 粗糙表面 標準探頭，使用廣泛 厚涂層
測量原理 磁感應 電渦流 磁感應 磁感應 電渦流 磁感應 信號處理 探頭內部32位信號處理（SIDSP）
度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值）
重復性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
zui小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm
zui小曲率半徑（凹，內置探頭） 30mm 30mm 30mm zui小測量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
zui小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
連續模式下測量速度 每秒20個讀數
單值模式下zui大測量速度 每分鐘70個讀數
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