智能數(shù)字化涂鍍層測厚儀minitest740

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涂鍍層測厚儀minitest740探頭內(nèi)置外置可換，讓用戶使用更加靈活，涂鍍層測厚儀minitest740更換不同探頭既可測小工件，薄涂層，也可測厚涂層，zui大測量到15mm

MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀

涂鍍層測厚儀minitest740-優(yōu)點：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加準確
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高準確度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件

SIDSP技術-*新技術，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，世界**的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界**技術生產(chǎn)。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您準確的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術，同時應用在現(xiàn)代通訊技術（手機網(wǎng)絡）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和準確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。

主機技術參數(shù)

主機型號	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	*多10,000個	*多10,000個	*多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)、小值、大值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
校準程序符合際標準和規(guī)范	ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過限
測量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃~60℃
存放溫度	-20℃~70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

探頭

探頭特性	F1.5，N07，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍	小工件，薄涂層		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)
較準確度	±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復性	±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
*小曲率半徑(凸)	1.0mm		1.5mm			5mm
*小曲率半徑 (凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
*小曲率半徑 (凹，內(nèi)置探頭)	30mm		30mm			30mm
*小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
*小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下*大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)